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連接器測試與HDMI認證
外觀尺寸測試
參考標準：EIA-364-18
目的：1. 檢查樣品外觀是否存在會影響產品性能或影響產品測試結果有異常。
2. 檢查產品規格尺寸是否符合產品要求及相關標準或協會規范要求
插拔力測試
參考標準：EIA-364-13
目的：驗證連接器的插拔力是否符合產品規格要求
原理：將連接器按規定速率進行完全插合或拔出，記錄相應的力值
測試設備：
耐久性測試
參考標準：EIA-364-09
目的：評估反復插拔對連接器的影響，模擬實際使用中連接器的插拔狀況
原理：按照規定速率連續插拔連接器直至達到規定次數。
測試設備：
絕緣電阻測試
參考標準：EIA-364-21
目的：驗證連接器的絕緣性能是否符合電路設計的要求或經受高溫，潮濕等環境應力時，其阻值是否符合有關技術條件的規定。
原理：在連接器的絕緣部分施加電壓，從而使絕緣部分的表面或內部產生漏電流而呈現出來的電阻值。
耐電壓測試
參考標準：EIA-364-20
目的：驗證連接器在額定電壓下是否能安全工作，能否耐受過電位的能力， 從而評定連接器絕緣材料或絕緣間隙是否合適 原理：在連接器接觸件與接觸件之間，接觸件與外殼之間施加規定電壓并保持規定時間，觀察樣品是否有擊穿或放電現象。
接觸電阻測試
參考標準：EIA-364-06/EIA-364-23
目的：驗證電流流經接觸件的接觸表面時產生的電阻值
原理：通過對連接器通規定電流，測量連接器兩端電壓降從而得出電阻值
振動測試：
參考標準：EIA-364-28
目的：驗證振動對電連接器及其組件性能的影響
振動類型：隨機振動，正弦振動
機械沖擊測試
參考標準：EIA-364-27
目的：驗證連接器及其組件耐沖擊的能力或評定其結構是否牢固
測試波形：辦正弦波，方波
冷熱沖擊測試
參考標準：EIA-364-32
目的：評估連接器在急速的大溫差變化下，對于其功能品質的影響
溫濕度組合循環測試
參考標準：EIA-364-31
目的：評估連接器在經過高溫高濕環境儲存后對連接器性能的影響
高溫測試
參考標準：EIA-364-17
目的：評估連接器暴露在高溫環境中于規定時間后端子和絕緣體性能是否發生變化
鹽霧測試
參考標準：EIA-364-26
目的：評估連接器，端子，鍍層耐鹽霧腐蝕能力
混合氣體腐蝕測試
參考標準：EIA-364-65
目的：評估連接器暴露在不同濃度混合氣體中的耐腐蝕能力及對其性能的影響
線材搖擺測試
參考標準：EIA-364-41
目的：評估連接器經受反復來回應力的能力以及評估此過程中的電連續性
溫升測試
參考標準：EIA-364-70
目的：評估當端子通額定電流時，端子的溫升是否超過規定值
